檢索結果:共3筆資料 檢索策略: "Classification".ekeyword (精準) and cadvisor.raw="王孔政"
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當解決混合型資料(包含數值型資料和類別型資料)的分類問題時,既有監督式學習演算法無法表現完美,然而如K-prototypes演算法的非監督式學習在處理混合型資料卻展現優異的潛力。因此,為同時擁有分群…
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電子產品微小化及對於良率要求極為嚴苛,因此在自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)容易因敏感度提高而出現過篩現象,常造成AOI瑕疵誤判及人力複檢成本提高。…
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高速生產的微型電子元件需要快速且準確的檢測方法,自動光學檢測(Automated Optical Inspection, AOI)常應用於此。然而,AOI易於產生檢測篩選不足且/或篩選過度的問題。本…